Uniwersytet im. A. Mickiewicza, Wydział Fizyki, Instytut Obserwatorium Astronomiczne

Astronomia Sferyczna

Wykład dla studentów astronomii, stopień I, semestr 2                2017/2018

UAM godło

Tadeusz J. Jopek, Instytut Obserwatorium Astronomiczne UAM, tel: 61 829-5143 e-mail: jopek@amu.edu.pl


Cele:    [Ogólny opis założeń wykładu, patrz sylabus.]

  1. opanowanie elementów geometrii sferycznej koniecznych do wyznaczenia położeń ciał niebieskich na sferze oraz do opisu zmian ich położeń,
  2. wprowadzenie do tematyki układów odniesienia: definicje układów współrzędnych, transformacje współrzędnych w ujęciu macierzowym,
  3. wprowadzenie do problemu czasu w astronomii,
  4. przejścia z miejsc obserwowanych do katalogowych, (precesja, nutacja, paralaksy, aberracje, refrekcja, ruch własny gwiazd),
  5. wstęp do metod wyznaczania współrzędnych absolutnych i względnych, katalogi gwiazdowe,

UWAGA! Wpis zaliczenia wykładu jest do uzyskania po wcześniejszym zaliczeniu ćwiczeń rachunkowych z astronomii sferycznej.



Matriały dla studentów: Polecamy ich kopiowanie i przynoszenie ze sobą na wykład: w formie książki, skrypt [pdf]
lub materialy w formie prezentacji: temat 01 [pdf]. temat 02 [pdf]. temat 03 [pdf]. temat 04 [pdf]. temat 05 [pdf]. temat 06 [pdf]. temat 07 [pdf]. temat 08 [pdf]. temat 09 [pdf]. temat 10 [pdf]. temat 11 [pdf]. temat 12 [pdf].

Treści wykładu zaczerpnieto głównie z:

  1. Green Robin.: "Spherical astronomy", Camb.Univ.Press, 1985.
  2. Taff L.G., Taff R.: "Computational spherical astronomy" John Wiley & Sons, New York-Chichester-Brisbane-Toronto, 1982.
  3. Kołaczek B.: "Astronomia sferyczna z ćwiczeniami", WPW, W-wa 1976.

Polecamy także inne źródła: podręczniki, oprogramowanie, bazy danych, ...:

  1. Oliver Montenbruck, Thomas Pfleger: Astronomy on the Personal Computer (with CD-ROM), Springer; 4 edition (July 21, 2005).
  2. Jean Meeus: "Astronomical Algorithms" , Willmann-Bell; 2nd edition (December 1998).
  3. MuPad: oprogramowanie do obliczeń symbolicznych, algebraicznych oraz numerycznych o wysokiej dokładności.

Tadeusz J. Jopek (2018.02.19)